На щорічній конференції Materials Science and Technology (MS&T23) корпорація Bruker (Nasdaq: BRKR) сьогодні оголосила про випуск Hysitron TI 990 TriboIndenter, який забезпечує вищий рівень продуктивності, автоматизації та продуктивності наномеханічного тестування. TI 990 — це комплексне вдосконалення провідної в галузі платформи TriboIndenter від Bruker із новими режимами вимірювання, удвічі швидшою пропускною здатністю тестування та більшою зоною тестування 200 мм x 300 мм. Ці удосконалення забезпечують відчутні переваги для різноманітних застосувань і ринків, наприклад, підвищена точність для нанорозмірних випробувань полімерних тонких плівок, підвищена пропускна здатність для комбінаторного матеріалознавства та багаторазовий аналіз повних 300-мм напівпровідникових пластин. Завдяки поєднанню продуктивності, зручності використання та гнучкості TI 990 є ідеальним рішенням для визначення характеристик для досліджень полімерів, розробки сплавів і напівпровідникових пристроїв.
«Остання система Bruker включає новий потужний інструмент керування, зокрема його нове керування зі змішаним режимом зворотного зв’язку, яке відкриває можливості для дослідження в обох крайніх межах часової області», — сказав професор Натан Мара з Університету міст-побратимів Міннесоти. «Вражає бачити, як розширюються межі для нових експериментів у малих масштабах».
«Кожен аспект TI 990 було переосмислено, щоб оптимізувати процес тестування та потенціал», — додав д-р Оден Воррен, генеральний менеджер відділу наномеханічних тестувань Bruker. «Наші інженери зробили все краще, від підвищеної гнучкості вимірювань до простішого налаштування системи та оптимізації роботи. Я з нетерпінням чекаю прориву, який зроблять наші клієнти з цією новою системою».
Про Hysitron TI 990 TriboIndenter
Використання кількох запатентованих і запатентовані технології, TI 990 дозволяє кількісно механічні та трибологічні характеристики на нанорозмірі. Кожен аспект процесу вимірювання та аналізу включає оновлену технологію, включаючи новий контролер Performech III, розширені режими керування зворотним зв’язком, динамічне наноіндентування наступного покоління nanoDMA IV і високошвидкісне відображення механічних властивостей XPM II. Майже будь-який зразок можна встановити за допомогою універсального патрона для зразків і виміряти на більшій тестовій площі. Зразок навігації у вигляді зверху оптимізує налаштування системи в новому програмному забезпеченні TriboScan 12, дозволяючи спрощувати дистанційне керування приладом.
Источник: electronicproducts.com
